gebrauchte Mikroskope in Südkorea

2008 View ENG, Benchmark250, 3D-Messmikroskop

• gebraucht

• Hersteller: View Eng

Seriennummer.: B25008111255 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: 3D-Messmikroskop | Ausrüstung: 3D-Messmikroskop | Beschreibung: XYZ Reisen 300x150x200mm

NIKON, MM-40, Messmikroskop

• gebraucht

• Hersteller: Nikon
• Modell: MM40

Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Messmikroskop | Ausrüstung: Messmikroskop | Beschreibung: 5x, 10x, 20x, 50x, 100x Objektiv

NIKON, ECLIPSE L200, Elektronenmikroskop

• gebraucht

• Hersteller: Nikon
• Modell: Eclipse L200

Seriennummer.: 610566 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Elektronenmikroskop | Ausrüstung: Elektronenmikroskop

2011 HITACHI NB-5000

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: NB5000

Wafergröße: N/A | Prozess: FIB Sem | Versand: EXW

2006 HITACHI HD2300A

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: HD 2300

Wafergröße: N/A | Prozess: Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) | Versand: EXW

HITACHI S 5000

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

HITACHI S 5000

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

HITACHI S 5000

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

HITACHI S 5000

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

HITACHI S 5000

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

JEOL JSM-6700F

• gebraucht

• Hersteller: Jeol
• Modell: JSM

Details: FE SEM | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: JEOL JSM-6700F FE SEM

HITACHI S-5000

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

Wafergröße: 6",8" | Prozess: FE SEM | Versand: EXW

1996 HITACHI S-4160

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-4160

Wafergröße: 6",8" | Prozess: FE SEM | Versand: EXW

HITACHI S-5000

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

Wafergröße: 6",8" | Prozess: FE SEM | Versand: EXW

HITACHI S-5000

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

Wafergröße: 6",8" | Prozess: FE SEM | Versand: EXW