RUDOLPH Meta Pulse 200
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8 " | Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Versand: EXW
Südkorea
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1997 LG SEMICON CLS-9002
gebraucht
- Hersteller: LG SEMICON
Prozess: 3. OPTISCHE INSPEKTION | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
gebraucht
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: Maske & Wafer-Inspektion | Versand: EXW
Südkorea
2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
gebraucht
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: Maske & Wafer-Inspektion | Versand: EXW
Südkorea
2010 Kobelco SBW-330
gebraucht
- Hersteller: Kobelco
- Modell: SBW-330
Details: Waferprüfung und Metrologie | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: SBW-330 Waferprüfung und Messtechnik
Südkorea
2010 RUDOLPH S3000A
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea
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2010 RUDOLPH S3000A
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea
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2010 Torya SP-500W
gebraucht
- Hersteller: Toray
- Modell: SP-500W
Wafergröße: 12" | Toray sp-500w s/n: A103141741 | Details: Messung der Bodenwellenhöhe | Bedingung: wie besehen | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: SP-500W Mess...
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Cyber optics Cyberscan C212/110
gebraucht
- Hersteller: Cyber optics
Details: Laser-Messung | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers. | Kommentare: Cyberscan C212/110 Lasermessung
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