2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
- Hersteller: Nanometrics
- Modell: CALIPERMOSAIC
Wafergröße: 12" | Prozess: Überlagerung | Versand: EXW".
Südkorea2013 RODOLPH Meta Pulse 300
- Hersteller: RODOLPH
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW".
SüdkoreaRODOLPH Meta Pulse 300
- Hersteller: RODOLPH
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW".
Südkorea- Südkorea
2001 HITACHI S4700-I
- Hersteller: Hitachi
- Modell: S 4700
Wafergröße: 12" | Prozess: Rasterelektronenmikroskop | Versand: EXW
SüdkoreaRUDOLPH Meta Pulse 3
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
SüdkoreaRUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW
SüdkoreaRUDOLPH Meta Pulse 300
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: METALL-THK-MESSUNG | Versand: EXW
SüdkoreaKLA_TENCOR PROMETRIX FT750
- Hersteller: KLA_TENCOR
Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaJEOL JWS-7500E
- Hersteller: Jeol
- Modell: JWS-7500E
Wafergröße: 8 " | Prozess: WAFER-PRÜFSYSTEM | Versand: EXW
Südkorea- Südkorea
- Südkorea
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KLA TENCOR P-15
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: P-15
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