gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) in Südkorea

KLA TENCOR, P-15, Oberflächenprofiler (Windows NT)

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P-15

Seriennummer.: 0704120887 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Oberflächenprofiler (Windows NT) | Ausrüstung: Oberflächenprofiler | Beschreibung: Windows NT

2000 KLA 2139

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: 2139

Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW

2011 HITACHI NB-5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: NB5000

Wafergröße: N/A | Prozess: FIB Sem | Versand: EXW

2002 MDC SIGNATION

• Hersteller: MDC

Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW

2000 KLA UV-1080

• Hersteller: KLA-Tencor

Wafergröße: 6", 8" | Prozess: MET | Versand: EXW

2006 HITACHI HD2300A

• Hersteller: Hitachi
• Modell: HD-2300A

Wafergröße: N/A | Prozess: Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) | Versand: EXW

LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325

• Hersteller: LASER&PHYSICS

Prozess: Maske Test Maschine | Wafergröße: N/A | Versand: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: CI T1X0 REV.2 | Versand: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: CI T1X0 | Versand: EXW

METROLOGY P2

• Hersteller: METROLOGY

METROLOGY Q230

• Hersteller: METROLOGY

Wafergröße: 8 "

HITACHI FB 2100

• Hersteller: Hitachi
• Modell: FB-2100

KLA P20H

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P20H

Wafergröße: 3

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Hersteller: Nanometrics

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

AMAT SEMVision

• Hersteller: Amat
• Modell: Semvision

Wafergröße: 12" | Versand: EXW