Südkorea
2003 HITACHI RS4000
gebraucht
- Hersteller: Hitachi
- Modell: RS 4000
Wafergröße: 12" | Prozess: FEHLERÜBERPRÜFUNG SEM | Versand: EXW
Südkorea
1990 KLA SFS7200
gebraucht
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: SFS7200
Wafergröße: 8 " | Prozess: Metrologie | Versand: EXW
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1997 LG SEMICON CLS-9002
gebraucht
- Hersteller: LG SEMICON
Prozess: 3. OPTISCHE INSPEKTION | Wafergröße: * | Versand: EXW
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2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
gebraucht
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: Maske & Wafer-Inspektion | Versand: EXW
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2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
gebraucht
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: Maske & Wafer-Inspektion | Versand: EXW
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2010 Kobelco SBW-330
gebraucht
- Hersteller: Kobelco
- Modell: SBW-330
Details: Waferprüfung und Metrologie | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: SBW-330 Waferprüfung und Messtechnik
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2010 RUDOLPH S3000A
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
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