gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) in Deutschland

Heidenhain Messstab LS 406 ML 470 mm 262 181 50

• Hersteller: Heidenhain

Inhalt: 1 Stück | Gewicht: 5000 g

Hitachi S3000H SEM Scanning Electron Microscope La

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-3000H

Objektnummer: AA00072011 | Objektbezeichnung: Hitachi S3000H SEM Scanning Electron Microscope La | Versand: 4-6 Wochen

Hitachi S4000 Microscope (SEM) Scanning Electron M

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-4000

Objektnummer: AA00072106 | Objektbezeichnung: Hitachi S4000 Microscope (SEM) Scanning Electron M | Versand: 4-6 Wochen

Veeco Dektak 3 Surface Profilmeter

• Hersteller: Veeco - Sloan
• Modell: Dektak

Objektnummer: AA00072255 | Objektbezeichnung: Veeco Dektak 3 Surface Profilmeter | Versand: 4-6 Wochen

2001 Leica INS 3000

• Hersteller: Leica
• Modell: INS 3000