gebrauchte fertiger

Ando Yokogawa AQ6140 Multi-Wellenlängenmessgerät (Wellenmeter)

• überholt

• Hersteller: Ando

Wellenlängenbereich: 1270 bis 1650 nm | Wellenlängen-absolutgenauigkeit: ±2 ppm | Maximaler eingangspegel: +10 dBm | Optischer eingang: 9/125 Singlemode-Glasfaser | Linearität: ±0,3 dB (Eingang: -30 dBm oder mehr...

Ando Yokogawa AQ6140 Multi-Wellenlängenmessgerät (Wellenmeter)

• gebraucht

• Hersteller: Ando

Wellenlängenbereich: 1270 bis 1650 nm | Wellenlängen-absolutgenauigkeit: ±2 ppm | Maximaler eingangspegel: +10 dBm | Optischer eingang: 9/125 Singlemode-Glasfaser | Linearität: ±0,3 dB (Eingang: -30 dBm oder mehr...

Bristol 428A Wellenlängenmessgerät

• gebraucht

• Hersteller: Bristol MFG

Wellenlängenbereich: 1270–1650 nm (182–236 THz) | Genauigkeit: ±0,2 Teile pro Million (±0,3 pm bei 1550 nm) | Leistungsmessung: ±0,5 dB Genauigkeit | Osnr-berechnung: ＞40 dB | Signalkapazität: Misst bis zu 1000 d...

Agilent 86060C 1X8 SM Optischer Schalter

• gebraucht

• Hersteller: Agilent - Keysight
• Modell: 86060C

Agilent 86060C 2X4 Optischer Schalter

• gebraucht

• Hersteller: Agilent - Keysight
• Modell: 86060C

JDS MAP280-Plattform für mehrere Anwendungen (JDS Fitel, JDSU)

• gebraucht

• Hersteller: JDSU - Viavi - Acterna

Artikel: MAP-280 | Kalibrierungstyp: Nur Funktionstest. | Kapazität: 8 Module | Cpu: Power-PC-Architektur | Betriebssystem: Linux | Remote-schnittstelle: USB, GPIB, Ethernet 10/100/1000Base-T | Usb-gerätekompatib...

Agilent (/HP/Keysight) 86062C 9/125µm Optischer Schalter (3x24) Hochleistungs-Glasfaser-Routing

• gebraucht

• Hersteller: Agilent - Keysight
• Modell: 86062C

Artikel: 86062C | Kalibrierungstyp: Premium-Kalibrierung verfügbar, nicht im Lieferumfang enthalten. | Anzahl der eingangskanäle: 3 Kanäle (Jeder Kanal kann auf jeden beliebigen Ausgang umgeschaltet werden) | Kan...

SPS KT1880B | Sicherheitsprüfgerät Multitester VDE Normen Prüfgerät .de

• gebraucht

• Hersteller: SPS

Herstellernummer: KT1880B

Techkon RS 800

• gebraucht

• Hersteller: Techkon

Microtrac Metallpulver Partikelcharakterisierung für den additiven Fertigungsprozess

• neu

• Hersteller: Microtrac

% überkorn> 200 µm hinzugefügt: % Überkorn＞200 µm vom CAMSIZER X2 detektiert; Unterschied | 0.005 %: 0.005 %; 0.000 % | 0.010 %: 0.013 %; 0.003 % | 0.020 %: 0.019 %; 0.001 % | 0.050 %: 0.054 %; 0.004 % | 0.100 %:...