Neu PicoTR in Burlington, Massachusetts, USA
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Spezifikationen
- Zustand
- neu
- Probendicke
- 30 nm ... 20 μm
- Reichweite
- 0,01 ... 1000 mm²/s
- Temperaturbereich
- von -125 °C bis 1100 °C
- Metallischer trend
- Die Thermophysikalischen Eigenschaften von Kupfer und seinen Legierungen
- 60 jahre netzsch-gerätebau
- Thermoreflectance – Die LFA-Methode für dünne Schichten
- Kategorie
- Analysegeräte in USA
- Subkategorie
- Analyzing & testing
- Subkategorie 2
- Time domain thermoreflectance analysatoren (tdtr)
- Inserat-ID
- 106858108
Beschreibung
The Method for the Determination of Thermal Diffusivity in the Thickness Range of Nanometer
Time Domain Thermoreflectance Methods
The Method for the Determination of Thermal Diffusivity in the Thickness Range of Nanometer
With the significant progress in the design of electronic devices and the associated need for an efficient thermal management, accurate thermal diffusivity / thermal conductivity measurements in the nanometer range are more than ever crucial.
The National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Japan, already responded to industrial requirements with the development of a “pulsed light heating
Thermoreflectance
Thermoreflectance ist eine Methode zur Bestimmung der Temperaturleitfähigkeit und Wärmeleitfähigkeit von Proben mit Dicken im Nano- und Mikrometer-Bereich.
thermoreflectance
method” in the early 90’s. PicoTherm Corporation was established in 2008 with the launch of a nano-second thermoreflectance apparatus “
NanoTR