gebrauchte Halbleiter in Südkorea

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• Hersteller: Jeol
• Modell: JWS-7500E

Wafergröße: 8 " | Prozess: Wafer-Inspektionssystem | Versand: EXW

JEOL JWS-7500E

• Hersteller: Jeol
• Modell: JWS-7500E

Wafergröße: 8 " | Prozess: WAFER-PRÜFSYSTEM | Versand: EXW

1996 HITACHI S-4160

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-4160

Wafergröße: 6",8" | Prozess: FE SEM | Versand: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Hersteller: CARLZEISS

Prozess: INSPEKTIONSMIKROSKOP | Wafergröße: * | Versand: EXW

JORDANVALLEY JVX6200

• Hersteller: JORDANVALLEY

Wafergröße: 12"

EXPEDIUS

Wafergröße: 12" | Prozess: DUMMY CLN | Versand: EXW

LINDA IN5-HI

• Hersteller: LINDA

Wafergröße: * | Versand: EXW

NIDEC IM 15

• Hersteller: Nidec-Shimpo

Prozess: Wafer-Inspektion | Wafergröße: * | Versand: EXW

RUDOLPH FE-3

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 8 " | Prozess: Fokus-Ellipsometer | Versand: EXW

LUMONICS SUPERCLEAN

• Hersteller: LUMONICS

Wafergröße: 8 " | Prozess: Lasermarkierungssystem | Versand: EXW".

RUDOLPH WV320

• Hersteller: Rudolph
• Modell: WV320

Wafergröße: 12" | Prozess: Makro-Inspektion | Versand: EXW".

2003 HITACHI RS4000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS-4000

Wafergröße: 12" | Prozess: FEHLERÜBERPRÜFUNG SEM | Versand: EXW

IWATANI LNS-1

• Hersteller: IWATANI

Details: Lieferant von Flüssigstickstoff | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: IWATANI LNS-1 Flüssigstickstoff-Lieferant

2008 RAYTEX RXW-800

• Hersteller: RAYTEX

Wafergröße: 8 " | Prozess: EDGE SCAN | Versand: EXW

2010 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl