gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) in Südkorea

1991 KLA SFS7200

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: SFS7200

Wafergröße: 8" | Prozess: Metrologie | Versand: EXW

2005 VISTEC LWM9000

• Hersteller: Vistec

Wafergröße: 6" | Versand: EXW

2010 HITACHI LS9000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: LS9000

Versand: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 8" | Versand: EXW

2003 HITACHI RS4000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS 4000

Wafergröße: 12" | Prozess: FEHLERÜBERPRÜFUNG SEM | Versand: EXW

2010 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 8" | Versand: EXW

2006 KLA CI T1X0

• Hersteller: KLA-Tencor

Versand: EXW

2013 HITACHI RS6000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS 6000

Versand: EXW

HSEB AXIOTRON 300

• Hersteller: HSEB

Versand: EXW

2010 HITACHI IS3200SE

• Hersteller: Hitachi
• Modell: IS3200SE

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

JORDANVALLEY JVX6200

• Hersteller: JORDANVALLEY

Wafergröße: 12"

JEOL JWS-7515

• Hersteller: Jeol
• Modell: JWS-7515

Details: Wafer-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: JEOL JWS-7515 Waferprüfung

2006 HITACHI IS2700E

• Hersteller: Hitachi
• Modell: IS2700SE

Wafergröße: 12" | Details: E-Strahl-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: HITACHI IS2700SE E-Strahlprüfung

KLA TENCOR P-15

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P-15