2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I
gebraucht
- Hersteller: Valley
- Modell: JVX6200I
Wafergröße: 12" | Prozess: Röntgenmetrologie (Röntgenreflexion) | Versand: EXW
SüdkoreaRUDOLPH Meta Pulse
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea2012 RUDOLPH S3000A
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 8 " | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Kammer: EXW
SüdkoreaKLA_TENCOR P-12
gebraucht
- Hersteller: KLA_TENCOR
Wafergröße: 6",8" | Prozess: DISK PROFILER | Versand: EXW
SüdkoreaRUDOLPH Meta Pulse 300
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea- Südkorea
RUDOLPH FE-4D
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 8 " | Prozess: Fokus-Ellipsometer | Versand: EXW
Südkorea2008 LASERTEC BGM 300
gebraucht
- Hersteller: Lasertec
Wafergröße: 8 " | Prozess: SYSTEM ZUR ANALYSE UND VISUALISIERUNG DER WAFEROBERFLÄCHE | Versand: EXW
Südkorea- Südkorea
2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)
gebraucht
- Hersteller: J.A.WOOLLAM
Wafergröße: 8 " | Prozess: ELLIPSOMETER | Versand: EXW
Südkorea2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
gebraucht
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: Maske & Wafer-Inspektion | Versand: EXW
SüdkoreaJEOL JWS-7515
gebraucht
- Hersteller: Jeol
- Modell: JWS-7515
Details: Wafer-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: JEOL JWS-7515 Waferprüfung
Südkorea2006 HITACHI IS2700E
gebraucht
- Hersteller: Hitachi
- Modell: IS2700SE
Wafergröße: 12" | Details: E-Strahl-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: HITACHI IS2700SE E-Strahlprüfung
SüdkoreaKLA TENCOR P-15
gebraucht
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: P-15
Südkorea- Südkorea