gebrauchte Unterstützende Ausrüstung (Halbleiter)

GENUS Stratagem300

• Hersteller: GENUS

Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: GENUS Stratagem300

WONIK IPS MAHA HP2

• Hersteller: WONIK IPS

Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: WONIK IPS MAHA HP2

1998 SEMITOOL EO212PM

• Hersteller: Semitool
• Modell: EO212PM

Prozess: Cu PLTNG | Wafergröße: * | Versand: EXW

HYPERFLOW CENTURA WET

• Hersteller: HYPERFLOW

Wafergröße: 6" | Prozess: Wafer Carreier Bootswaschanlage | Versand: EXW

DMS I-GEMINUS 6000

• Hersteller: DMS
• Modell: I-GEMINUS 6000

Wafergröße: 12" | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: DMS I-GEMINUS 6000

SUNGJIN SEMITECH ULTRA SONIC

• Hersteller: SUNGJIN SEMITECH

Prozess: Waffelreiniger Auto | Wafergröße: * | Versand: EXW

1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR

• Hersteller: Nicolet
• Modell: MAGNA 410 FT-IR

Prozess: Spektrometer | Wafergröße: * | Versand: Amperage

MARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600

• Hersteller: Verteq
• Modell: SUPERCLEAN 1600

Prozess: WÄSCHESCHLEUDER | Wafergröße: * | Versand: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Hersteller: CARLZEISS

Prozess: INSPEKTIONSMIKROSKOP | Wafergröße: * | Versand: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Hersteller: Leica

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Hersteller: Leica
• Modell: KENSINGTON 300901

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Hersteller: Leica
• Modell: KENSINGTON 300901

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• Hersteller: Jeol
• Modell: JWS-7500E

Wafergröße: 8" | Prozess: Wafer Inspection System | Versand: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Hersteller: CARLZEISS

Prozess: INSPEKTIONSMIKROSKOP | Wafergröße: * | Versand: EXW

EXPEDIUS

Wafergröße: 12" | Prozess: DUMMY CLN | Versand: EXW