gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter)

AMAT SEMVision

• Hersteller: Amat
• Modell: Semvision

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

KLA P20H

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P20H

Wafergröße: 3

1996 BROOKS METARA 7200

• Hersteller: Brooks

Wafergröße: 8" | Prozess: OVERAY | Versand: EXW

RUDOLPH WV320

• Hersteller: Rudolph
• Modell: WV320

Wafergröße: 12" | Prozess: Makro-Inspektion | Versand: EXW".

RUDOLPH WV320 MACRO

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 8" | Versand: EXW

2003 HITACHI RS4000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS-4000

Wafergröße: 12" | Prozess: FEHLERÜBERPRÜFUNG SEM | Versand: EXW

1991 NIKON 3

• Hersteller: Nikon

Wafergröße: 5" | Prozess: OPTI STATION

2010 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 8" | Versand: EXW

2006 KLA CI T1X0

• Hersteller: KLA-Tencor

Versand: EXW

JORDANVALLEY JVX6200

• Hersteller: JORDANVALLEY

Wafergröße: 12"

FEI FEM2010F

• Hersteller: FEI
• Modell: FEM2010F

Details: Doppelter Strahl | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: FEI FEM2010F Doppelstrahl

2005 RUDOLPH MP200

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP200

2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

• Hersteller: Nanometrics
• Modell: CALIPERMOSAIC

Wafergröße: 12" | Prozess: Überlagerung | Versand: EXW".

2013 RODOLPH Meta Pulse 300

• Hersteller: RODOLPH

Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW".