2003 RUDOLPH Meta Pulse 300
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke
Südkorea
1999 NEC NEC SL-473F
gebraucht
- Hersteller: NEC
- Modell: SL-473F
Prozess: SI-WAFER-MARKER | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
KLA_TENCOR PROMETRIX FT750
gebraucht
- Hersteller: KLA_TENCOR
Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
2006 NANOMETRICS CALIPER-ULTRA
gebraucht
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: Überlagerung | Versand: EXW
Südkorea
2003 HITACHI RS4000
gebraucht
- Hersteller: Hitachi
- Modell: RS 4000
Wafergröße: 12" | Prozess: Defektprüfung Sem | Versand: EXW
Südkorea
THERMO FISHER ECO 1000
gebraucht
- Hersteller: Thermo Fisher Scientific
- Modell: ECO 1000
Prozess: FTIR-SYSTEM | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH Meta Pulse 200
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8 " | Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Versand: EXW
Südkorea
1997 LG SEMICON CLS-9002
gebraucht
- Hersteller: LG SEMICON
Prozess: 3. OPTISCHE INSPEKTION | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
gebraucht
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: Maske & Wafer-Inspektion | Versand: EXW
Südkorea
2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
gebraucht
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: Maske & Wafer-Inspektion | Versand: EXW
Südkorea
2010 Kobelco SBW-330
gebraucht
- Hersteller: Kobelco
- Modell: SBW-330
Details: Waferprüfung und Metrologie | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: SBW-330 Waferprüfung und Messtechnik
Südkorea
2010 RUDOLPH S3000A
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea
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