gebrauchte metrologie

2009 HITACHI RS4000T

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS-4000

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

Hitachi S4700II

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-4700

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

2006 HITACHI IS2700E

• Hersteller: Hitachi
• Modell: IS-2700SE

Wafergröße: 12" | Details: E-Strahl-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: HITACHI IS2700SE E-Strahlprüfung

HITACHI S4700-II

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-4700

Wafergröße: 12" | Prozess: FESEM mit Horriba EMAX EDX | Versand: EXW

2003 HITACHI RS 4000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS-4000

Wafergröße: 12" | Prozess: Defektprüfung Sem | Versand: EXW

2003 HITACHI RS4000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS-4000

Wafergröße: 12" | Prozess: Defektprüfung Sem | Versand: EXW

2001 HITACHI S4700-I

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-4700

Wafergröße: 12" | Prozess: Rasterelektronenmikroskop | Versand: EXW

1996 HITACHI S-4160

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-4160

Wafergröße: 6",8" | Prozess: FE SEM | Versand: EXW

2010 HITACHI LS9000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: LS9000

Versand: EXW

2003 HITACHI RS4000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS-4000

Wafergröße: 12" | Prozess: FEHLERÜBERPRÜFUNG SEM | Versand: EXW

2013 HITACHI RS6000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS-6000

Versand: EXW

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000