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gebrauchte halbleiter

Vertrauter Verkäufer
Tragbares Lasermessung LEICA LTD-840
- Hersteller: Leica
Item_id: 840 | Subcategory: Metrologie | Referenz: 240-S053 | Kopfgröße: 220x280x875 mm | Mcu abmessungen: 510x485x200 mm | Kopfgewicht: 34 Kg | Gewicht mcu: 17 kg | Horizontal spiegeln: ± 235ºC | Tilt: ± 45 ° C ...
Barcelona, Spanien
Vertrauter Verkäufer
2001 Leica INS 3000
- Hersteller: Leica
- Modell: INS 3000
München, Deutschland
LEICA INM100
- Hersteller: Leica
- Modell: INM100
Prozess: BETRIEBSANLEITUNG LICHTMIKROSKOP | Wafergröße: * | Versand: EXW
Los Angeles, Kalifornien
LEICA POLYVAR SC
- Hersteller: Leica
- Modell: POLYVAR SC
Prozess: POLYVAR SCOPE | Wafergröße: 8" | Versand: EXW
Los Angeles, Kalifornien
2002 LEICA REICHERT POLYVAR SC
- Hersteller: Leica
- Modell: REICHERT POLYVAR SC
Wafergröße: 8",12" | Prozess: WAFER-INSPEKTIONSMIKROSKOP | Versand: EXW
Los Angeles, Kalifornien
LEICA INM100
- Hersteller: Leica
- Modell: INM100
Prozess: BETRIEBSANLEITUNG LICHTMIKROSKOP | Wafergröße: * | Versand: EXW
Los Angeles, Kalifornien
LEICA INM100
- Hersteller: Leica
- Modell: INM100
Prozess: BETRIEBSANLEITUNG LICHTMIKROSKOP | Wafergröße: * | Versand: EXW
Los Angeles, Kalifornien
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Hersteller: Leica
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Hersteller: Leica
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Hersteller: Leica
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Hersteller: Leica
- Modell: KENSINGTON 300901
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Hersteller: Leica
- Modell: KENSINGTON 300901
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Hersteller: Leica
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Hersteller: Leica
- Modell: KENSINGTON 300901
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Hersteller: Leica
- Modell: KENSINGTON 300901
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea

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