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gebrauchte etc in Südkorea

K&K, 6,0 Zoll, HOTPLATE
- Hersteller: K&K
Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: HOTPLATE | Ausrüstung: HOTPLATE | Beschreibung: 6 Zoll
Suwon, Südkorea
TEL 303I
- Hersteller: Tokyo Electron - TEL
- Modell: 303I
Wafergröße: 12" | Versand: EXW
Südkorea
TEL FORMULA
- Hersteller: Tokyo Electron - TEL
- Modell: Formula
Wafergröße: 12" | Versand: EXW
Südkorea
TEL INDY PLS
- Hersteller: Tokyo Electron - TEL
Wafergröße: 12 | Versand: EXW
Südkorea
2008 EMTEC CVP-320
- Hersteller: EMTEC
Wafergröße: 12"
Gyeonggi-do, Südkorea
VERTEQ SUPERCLEAN 1600
- Hersteller: Verteq
- Modell: SUPERCLEAN 1600
Gyeonggi-do, Südkorea
MPD MSP-2300XPI
- Hersteller: MPD
Wafergröße: 12" | Details: Wafer-Abscheidung | Sendung: EXW
Anseong, Südkorea
2011 AXCELIS INTEGRA
- Hersteller: Axcelis
- Modell: Integra
Wafergröße: 12" | Prozess: ES-Plasma-Trockenstreifenanlage | Versand: EXW".
Seoul, Südkorea
1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR
- Hersteller: Nicolet
- Modell: MAGNA 560 FT-IR
Versand: EXW
Südkorea
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Hersteller: Leica
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
HP 4145B
- Hersteller: HP
- Modell: 4145B
Prozess: HALBLEITERPARAMETER | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Hersteller: Leica
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Hersteller: Leica
- Modell: KENSINGTON 300901
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Hersteller: Leica
- Modell: KENSINGTON 300901
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
KEITHLEY KEITHLEY 236
- Hersteller: Keithley
- Modell: 236
Details: Quelle Messeinheit | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: KEITHLEY 236 Quellenmessgerät
Südkorea