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2006 HITACHI HD2300A
- Hersteller: Hitachi
- Modell: HD-2300A
Wafergröße: N/A | Prozess: Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) | Versand: EXW
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2011 HITACHI NB-5000
- Hersteller: Hitachi
- Modell: NB5000
Wafergröße: N/A | Prozess: FIB Sem | Versand: EXW
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2006 TEL ALPHA 303I
- Hersteller: Tokyo Electron - TEL
- Modell: Alpha-303i
Wafergröße: 12" | Prozess: KAMIN | Versand: EXW
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2006 TEL A303I
- Hersteller: Tokyo Electron - TEL
- Modell: A303I
Wafergröße: 12" | Prozess: KAMIN | Versand: EXW
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2007 KOCUSAI VR120_SD
- Hersteller: KOCUSAI
Wafergröße: 12" | Prozess: Widerstandsprüfsystem | Versand: EXW
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Nanometrics Caliper_MOSAIC
- Hersteller: Nanometrics
- Modell: CALIPERMOSAIC
Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: Nanometrischer Messschieber_MOSAIC
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E-TECH SOLUTION INSPECTION SCOPE
- Hersteller: Kannegiesser-Etech
Prozess: INSPEKTIONSUMFANG | Wafergröße: * | Versand: EXW
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1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR
- Hersteller: Nicolet
- Modell: MAGNA 560 FT-IR
Prozess: Spektrometer | Wafergröße: * | Versand: EXW
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LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Hersteller: Leica
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
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