gebrauchte etc in Daegu, Südkorea

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Hersteller: Leica
• Modell: KENSINGTON 300901

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• Hersteller: Jeol
• Modell: JWS-7500E

Wafergröße: 8 " | Prozess: Wafer-Inspektionssystem | Versand: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Hersteller: CARLZEISS

Prozess: INSPEKTIONSMIKROSKOP | Wafergröße: * | Versand: EXW

EXPEDIUS

Wafergröße: 12" | Prozess: DUMMY CLN | Versand: EXW

NIDEC IM 15

• Hersteller: Nidec-Shimpo

Prozess: Wafer-Inspektion | Wafergröße: * | Versand: EXW

LUMONICS SUPERCLEAN

• Hersteller: LUMONICS

Wafergröße: 8 " | Prozess: Lasermarkierungssystem | Versand: EXW".

IWATANI LNS-1

• Hersteller: IWATANI

Details: Lieferant von Flüssigstickstoff | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: IWATANI LNS-1 Flüssigstickstoff-Lieferant

TEL 303I

• Hersteller: Tokyo Electron - TEL
• Modell: 303I

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

TEL FORMULA

• Hersteller: Tokyo Electron - TEL
• Modell: Formula

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

TEL INDY PLS

• Hersteller: Tokyo Electron - TEL

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR

• Hersteller: Nicolet
• Modell: MAGNA 560 FT-IR

Versand: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Hersteller: Leica

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

HP 4145B

• Hersteller: HP
• Modell: 4145B

Prozess: HALBLEITERPARAMETER | Wafergröße: * | Versand: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Hersteller: Leica

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Hersteller: Leica
• Modell: KENSINGTON 300901

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW