gebrauchte solution in New York City, New York, USA

SLM 280

• Hersteller: SLM Solutions

Bauform (us-standard): 11" x 11" x 14,4" | Schichtdicke (us-standard): 20 µm – 75 µm | Min. merkmalsgröße (us-standard): 150 µm | Strahlfokusdurchmesser (us-standard): 80 µm – 115 | Max. scangeschwindigkeit (us-s...