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gebrauchte tester in Busan, Südkorea

2007 KOCUSAI VR120_SD
- Hersteller: KOCUSAI
Wafergröße: 12" | Prozess: Widerstandsprüfsystem | Versand: EXW
Südkorea
1996 Nanometrics Nanospec8000
- Hersteller: Nanometrics
- Modell: Nanospec
Prozess: MET | Versand: EXW
Südkorea
2011 HMI eScan 400
- Hersteller: HMI
- Modell: Escan 400
Wafergröße: 12" | Prozess: E-Beam Defekt Inspektion | Versand: EXW
Südkorea
A&B WOS 2000
- Hersteller: A&B
Versand: EXW
Südkorea
NEXTEST MAGNUM PV SCM
- Hersteller: SCM / SCMI
Wafergröße: 8, 12" | Versand: EXW
Südkorea
NIKON AMI-3300
- Hersteller: Nikon
- Modell: AMI-3300
Wafergröße: 12" | Versand: EXW
Südkorea
2003 RUDOLPH AXI_S
- Hersteller: Rudolph
- Modell: AXI
Wafergröße: 12" | Prozess: Defekt-Inspektion | Versand: EXW".
Südkorea
1996 KARLSUSS PM8
- Hersteller: KARLSUSS
Versand: EXW
Südkorea
NIKON AMI-3300
- Hersteller: Nikon
- Modell: AMI-3300
Wafergröße: 12" | Versand: EXW
Südkorea
2006 RUDOLPH MP-300
- Hersteller: Rudolph
- Modell: MP 300
Wafergröße: 12 | Versand: EXW
Südkorea
2012 RUDOLPH MP3_300A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: MP 300
Wafergröße: 12 | Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH MP3_300XCU
- Hersteller: Rudolph
- Modell: MP 300
Wafergröße: 12 | Versand: EXW
Südkorea
SECRON IP 300
- Hersteller: SECRON
Wafergröße: 12" | Prozess: Prober | Versand: EXW".
Südkorea
2008 RUDOLPH MP1-300XCU
- Hersteller: Rudolph
- Modell: MP 300
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea
2007 RUDOLPH MP300
- Hersteller: Rudolph
- Modell: MP 300
Wafergröße: 8" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea

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