gebrauchte tester in Busan, Südkorea

2007 KOCUSAI VR120_SD

• Hersteller: KOCUSAI

Wafergröße: 12" | Prozess: Widerstandsprüfsystem | Versand: EXW

1996 Nanometrics Nanospec8000

• Hersteller: Nanometrics
• Modell: Nanospec

Prozess: MET | Versand: EXW

2011 HMI eScan 400

• Hersteller: HMI
• Modell: Escan 400

Wafergröße: 12" | Prozess: E-Beam Defekt Inspektion | Versand: EXW

A&B WOS 2000

• Hersteller: A&B

Versand: EXW

NEXTEST MAGNUM PV SCM

• Hersteller: SCM / SCMI

Wafergröße: 8, 12" | Versand: EXW

NIKON AMI-3300

• Hersteller: Nikon
• Modell: AMI-3300

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

2003 RUDOLPH AXI_S

• Hersteller: Rudolph
• Modell: AXI

Wafergröße: 12" | Prozess: Defekt-Inspektion | Versand: EXW".

1996 KARLSUSS PM8

• Hersteller: KARLSUSS

Versand: EXW

1997 KLA AIT

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: AIT

Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW

LEICA INM300 Wafer Inspection

• Hersteller: Leica

2004 RUDOLPH AXI-S

• Hersteller: Rudolph
• Modell: AXI

Wafergröße: 12" | Prozess: Makro-Inspektion | Versand: EXW

NIKON AMI-3500

• Hersteller: Nikon
• Modell: AMI-3500

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

2008 RUDOLPH MP-300XCU

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Versand: EXW

2001 RUDOLPH MP-300

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW