gebrauchte tester in Daejeon, Südkorea

2007 KOCUSAI VR120_SD

• Hersteller: KOCUSAI

Wafergröße: 12" | Articulando: Widerstandsprüfsystem | Versand: EXW

1996 Nanometrics Nanospec8000

• Hersteller: Nanometrics
• Modell: Nanospec

Prozess: MET | Versand: EXW

2011 HMI eScan 400

• Hersteller: HMI
• Modell: Escan 400

Wafergröße: 12" | Prozess: E-Beam Defekt Inspektion | Versand: EXW

2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Inspektionsmikroskop

• Hersteller: Nikon
• Modell: Optiphot 300

Seriennummer.: 625331 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Inspektionsmikroskop | Ausrüstung: Inspektionsmikroskop | Beschreibung: 14x10 Tisch, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

2010 AIT, AVIS-5000N, LED-Wafer-Inspektionssystem

• Hersteller: AIT

Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: LED-Wafer-Inspektionssystem | Ausrüstung: LED-Wafer-Inspektionssystem | Beschreibung: Wafer 2~6"

2012 KOH YOUNG, KY-7100, Automatische optische 3D-Inspektionsmaschine

• Hersteller: Koh Young
• Modell: KY7100

Seriennummer.: AOI-S001 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Automatische optische 3D-Inspektionsmaschine | Ausrüstung: Automatische optische 3D-Inspektionsmaschine | Beschreibung: 208VAC, 1Phase, 50/60Hz

1999 PLASMOS, SD2002, ELLIPSOMETER

• Hersteller: Plasmos

Seriennummer.: 5094.06.94 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: ELLIPSOMETER | Ausrüstung: ELLIPSOMETER | Beschreibung: Wafer 300mm | Videomonitor: 9M200A | Elektrophysik: AF-750 Mikroskop-Autofokus-System

MKS, P99A-28229, Druckregler

• Hersteller: MKS

Seriennummer.: 10XX09 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Druckregler | Ausrüstung: Druckregler | Beschreibung: Gas N2, Bereich 1000SCCM, 1000Torr

2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Inspektionsmikroskop

• Hersteller: Nikon
• Modell: Optiphot 300

Seriennummer.: 625331 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Inspektionsmikroskop | Ausrüstung: Inspektionsmikroskop | Beschreibung: 14x10 Tisch, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

A&B WOS 2000

• Hersteller: A&B

Versand: EXW

NEXTEST MAGNUM PV SCM

• Hersteller: SCM / SCMI

Wafergröße: 8, 12" | Versand: EXW

Yokogawa, 329801, Multimedia-Display-Tester

• Hersteller: Yokogawa

Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Multimedia-Display-Tester | Ausrüstung: Multimedia-Display-Tester

2001 Semilab, WT-2000, Wafer-Tester

• Hersteller: Semilab
• Modell: WT-2000

Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Wafer-Tester | Ausrüstung: Wafer-Tester | Beschreibung: Wafergröße bis zu 300 mm

1997 KLA AIT

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: AIT

Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW

LEICA INM300 Wafer Inspection

• Hersteller: Leica