gebrauchte tester in Seoul, Südkorea

2010 AIT, AVIS-5000N, LED-Wafer-Inspektionssystem

• Hersteller: AIT

Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: LED-Wafer-Inspektionssystem | Ausrüstung: LED-Wafer-Inspektionssystem | Beschreibung: Four de séchage

2012 KOH YOUNG, KY-7100, Automatische optische 3D-Inspektionsmaschine

• Hersteller: Koh Young
• Modell: KY7100

Seriennummer.: AOI-S001 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Automatische optische 3D-Inspektionsmaschine | Ausrüstung: Automatische optische 3D-Inspektionsmaschine | Beschreibung: 208VAC, 1Phase, 50/60Hz

2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Inspektionsmikroskop

• Hersteller: Nikon
• Modell: Optiphot 300

Seriennummer.: 625331 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Inspektionsmikroskop | Ausrüstung: Inspektionsmikroskop | Beschreibung: 14x10 Tisch, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

1999 PLASMOS, SD2002, ELLIPSOMETER

• Hersteller: Plasmos

Cincel plano, cinceles divers: 5094.06.94 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: ELLIPSOMETER | Ausrüstung: ELLIPSOMETER | Beschreibung: Wafer 300mm | Videomonitor: 9M200A | 1年: AF-750 Mikroskop-Autofokus-System

MKS, P99A-28229, Druckregler

• Hersteller: MKS

Seriennummer.: 10XX09 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Druckregler | Ausrüstung: Druckregler | Beschreibung: Gas N2, Bereich 1000SCCM, 1000Torr

2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Inspektionsmikroskop

• Hersteller: Nikon
• Modell: Optiphot 300

Seriennummer.: 625331 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Inspektionsmikroskop | Ausrüstung: Inspektionsmikroskop | Beschreibung: 14x10 Tisch, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

Yokogawa, 329801, Multimedia-Display-Tester

• Hersteller: Yokogawa

Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Multimedia-Display-Tester | Ausrüstung: Multimedia-Display-Tester

2001 Semilab, WT-2000, Wafer-Tester

• Hersteller: Semilab
• Modell: WT-2000

Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Wafer-Tester | Ausrüstung: Wafer-Tester | Beschreibung: Wafergröße bis zu 300 mm

MITLICHT(광전자정밀), OPI-150, IN-LINE LED TESTER

• Hersteller: Withlight

Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: INLINE-LED-TESTER | Ausrüstung: INLINE-LED-TESTER | Beschreibung: Messgeschwindigkeit 0,3s/Probe

2005 RUDOLPH MP-300

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

EDWARDS IH600 NEW LK NGW730000XS(TEST OK)

• Hersteller: Edwards
• Modell: IH600

2011 Scinco, VMS-1S, Kanaltester

• Hersteller: Scinco

Seriennummer.: VMS-1S-1302028 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Kanal-Tester | Ausrüstung: Kanal-Tester

2012 Scinco, VMS-1S, Kanaltester

• Hersteller: Scinco

Seriennummer.: VMS-1S-1202001 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Kanal-Tester | Ausrüstung: Kanal-Tester

HEESUNG ELECTRONIC, TD-0004, Kugelfallprüfgerät

• Hersteller: HEESUNG ELECTRONIC

Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Ball Drop Impact Tester | Ausrüstung: Ball Drop Impact Tester | Beschreibung: N/A

2009 Shibuya, EH-172, Prüfbeauftragter

• Hersteller: Shibuya

Seriennummer.: CAD2210 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Test-Handler | Ausrüstung: Test-Handler | Beschreibung: 8.0 KVA