gebrauchte Test Und Messung

1996 Nanometrics Nanospec8000

• Hersteller: Nanometrics
• Modell: Nanospec

Prozess: MET | Versand: EXW

2011 HMI eScan 400

• Hersteller: HMI
• Modell: Escan 400

Wafergröße: 12" | Prozess: E-Beam Defekt Inspektion | Versand: EXW

Chint Power Smart COMBOX - CHINT POWER

2005 RUDOLPH MP-300

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

NEXTEST MAGNUM PV SCM

• Hersteller: SCM / SCMI

Wafergröße: 8, 12" | Versand: EXW

A&B WOS 2000

• Hersteller: A&B

Versand: EXW

2008 RUDOLPH MP1-300XCU

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

2007 RUDOLPH MP300

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 8 " | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

NIKON AMI-3300

• Hersteller: Nikon
• Modell: AMI-3300

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

2006 RUDOLPH MP-300

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

2012 RUDOLPH MP3_300A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

RUDOLPH MP3_300XCU

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

SECRON IP 300

• Hersteller: SECRON

Wafergröße: 12" | Prozess: Prober | Versand: EXW".

NIKON AMI-3300

• Hersteller: Nikon
• Modell: AMI-3300

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

2003 RUDOLPH AXI_S

• Hersteller: Rudolph
• Modell: AXI

Wafergröße: 12" | Prozess: Defekt-Inspektion | Versand: EXW".