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gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) in Südkorea

2005 VISTEC LWM9000
- Hersteller: Vistec
Wafergröße: 6" | Versand: EXW
Südkorea
2010 HITACHI LS9000
- Hersteller: Hitachi
- Modell: LS9000
Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH WV320 MACRO
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 8 " | Versand: EXW
Südkorea
2003 HITACHI RS4000
- Hersteller: Hitachi
- Modell: RS 4000
Wafergröße: 12" | Prozess: FEHLERÜBERPRÜFUNG SEM | Versand: EXW
Südkorea
1991 NIKON 3
- Hersteller: Nikon
Wafergröße: 5" | Prozess: OPTI STATION
Südkorea
2010 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH WV320 MACRO
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 8 " | Versand: EXW
Südkorea
2006 KLA CI T1X0
- Hersteller: KLA-Tencor
Versand: EXW
Südkorea
2013 HITACHI RS6000
- Hersteller: Hitachi
- Modell: RS 6000
Versand: EXW
Südkorea
2010 HITACHI IS3200SE
- Hersteller: Hitachi
- Modell: IS3200SE
Wafergröße: 12" | Versand: EXW
Südkorea
1990 KLA SFS7200
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: SFS7200
Wafergröße: 8" | Prozess: Metrologie | Versand: EXW
Südkorea
HSEB AXIOTRON 300
- Hersteller: HSEB
Versand: EXW
Südkorea
JORDANVALLEY JVX6200
- Hersteller: JORDANVALLEY
Wafergröße: 12"
Südkorea
RUDOLPH WV320
- Hersteller: Rudolph
- Modell: WV320
Wafergröße: 12" | Prozess: Makro-Inspektion | Versand: EXW".
Südkorea
1997 LG SEMICON CLS-9002
- Hersteller: LG SEMICON
Prozess: 3. OPTISCHE INSPEKTION | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea

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