gebrauchte Unterstützende Ausrüstung (Halbleiter)

2007 DNS SS-3000-AR

• Hersteller: Dainippon Screen
• Modell: SS-3000

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

2006 DNS SS-3000-AR

• Hersteller: Dainippon Screen
• Modell: SS-3000

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

DNS SU-3000

• Hersteller: Dainippon Screen
• Modell: SU-3000

Wafergröße: 12" | Prozess: Reiniger | Typ: MP | Versand: EXW".

SUNGJIN SEMITECH ULTRA SONIC

• Hersteller: SUNGJIN SEMITECH

Prozess: Waffelreiniger Auto | Wafergröße: * | Versand: EXW

1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR

• Hersteller: Nicolet
• Modell: MAGNA 410 FT-IR

Prozess: Spektrometer | Wafergröße: * | Versand: EXW

MARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600

• Hersteller: Verteq
• Modell: SUPERCLEAN 1600

Prozess: WÄSCHESCHLEUDER | Wafergröße: * | Versand: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Hersteller: CARLZEISS

Prozess: INSPEKTIONSMIKROSKOP | Wafergröße: * | Versand: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Hersteller: Leica

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Hersteller: Leica
• Modell: KENSINGTON 300901

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Hersteller: Leica
• Modell: KENSINGTON 300901

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• Hersteller: Jeol
• Modell: JWS-7500E

Wafergröße: 8 " | Prozess: Wafer-Inspektionssystem | Versand: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Hersteller: CARLZEISS

Prozess: INSPEKTIONSMIKROSKOP | Wafergröße: * | Versand: EXW

DNS SS-3000-AR

• Hersteller: Dainippon Screen
• Modell: SS-3000

Wafergröße: 12" | Lieferung: EXW

EXPEDIUS

Wafergröße: 12" | Prozess: DUMMY CLN | Versand: EXW

NIDEC IM 15

• Hersteller: Nidec-Shimpo

Prozess: Wafer-Inspektion | Wafergröße: * | Versand: EXW