RUDOLPH Meta Pulse 300
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: METALL-THK-MESSUNG | Versand: EXW
Südkorea
KLA_TENCOR PROMETRIX FT750
- Hersteller: KLA_TENCOR
Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
1996 HITACHI S-4160
- Hersteller: Hitachi
- Modell: S-4160
Wafergröße: 6",8" | Prozess: FE SEM | Versand: EXW
Südkorea
JEOL JWS-7500E
- Hersteller: Jeol
- Modell: JWS-7500E
Wafergröße: 8" | Prozess: WAFER-PRÜFSYSTEM | Versand: EXW
Südkorea
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RUDOLPH FE-3
- Hersteller: Rudolph
- Modell: FE-3
Wafergröße: 8" | Prozess: Fokus-Ellipsometer | Versand: EXW
Südkorea
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2010 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
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2010 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
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2010 Torya SP-500W
- Hersteller: Toray
- Modell: SP-500W
Wafergröße: 12" | Toray sp-500w s/n: A103141741 | Details: Messung der Bodenwellenhöhe | Bedingung: wie besehen | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: SP-500W Mess...
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