Halbleiter » Test und Messung » Südkorea

Suche nach Hersteller

Suche nach Provinz

Building Filters

37

gebrauchte Test Und Messung in Südkorea

  • 1999 PLASMOS, SD2002, ELLIPSOMETER

    1999 PLASMOS, SD2002, ELLIPSOMETER

    • Hersteller: Plasmos

    Seriennummer.: 5094.06.94 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: ELLIPSOMETER | Ausrüstung: ELLIPSOMETER | Beschreibung: Wafer 300mm | Videomonitor: 9M200A | Elektrophysik: AF-750 Mikroskop-Autofokus-System

    Suwon, Südkorea
  • MKS, P99A-28229, Druckregler

    MKS, P99A-28229, Druckregler

    • Hersteller: MKS

    Seriennummer.: 10XX09 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Druckregler | Ausrüstung: Druckregler | Beschreibung: Gas N2, Bereich 1000SCCM, 1000Torr

    Suwon, Südkorea
  • 2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Inspektionsmikroskop

    2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Inspektionsmikroskop

    • Hersteller: Nikon
    • Modell: Optiphot 300

    Seriennummer.: 625331 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Inspektionsmikroskop | Ausrüstung: Inspektionsmikroskop | Beschreibung: 14x10 Tisch, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

    Suwon, Südkorea
  • 2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Inspektionsmikroskop

    2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Inspektionsmikroskop

    • Hersteller: Nikon
    • Modell: Optiphot 300

    Seriennummer.: 625331 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Inspektionsmikroskop | Ausrüstung: Inspektionsmikroskop | Beschreibung: 14x10 Tisch, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

    Suwon, Südkorea
  • 2010 AIT, AVIS-5000N, LED-Wafer-Inspektionssystem

    2010 AIT, AVIS-5000N, LED-Wafer-Inspektionssystem

    • Hersteller: AIT

    Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: LED-Wafer-Inspektionssystem | Ausrüstung: LED-Wafer-Inspektionssystem | Beschreibung: Wafer 2~6"

    Suwon, Südkorea
  • 2012 KOH YOUNG, KY-7100, Automatische

    2012 KOH YOUNG, KY-7100, Automatische optische 3D-Inspektionsmaschine

    • Hersteller: Koh Young
    • Modell: KY7100

    Seriennummer.: AOI-S001 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Automatische optische 3D-Inspektionsmaschine | Ausrüstung: Automatische optische 3D-Inspektionsmaschine | Beschreibung: 208VAC, 1Phase, 50/60Hz

    Suwon, Südkorea
  • 2007 KOCUSAI VR120_SD

    2007 KOCUSAI VR120_SD

    • Hersteller: KOCUSAI

    Wafergröße: 12" | Prozess: Widerstandsprüfsystem | Versand: EXW

    Südkorea
  • 1996 Nanometrics Nanospec8000

    1996 Nanometrics Nanospec8000

    • Hersteller: Nanometrics
    • Modell: Nanospec

    Prozess: MET | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2011 HMI eScan 400

    2011 HMI eScan 400

    • Hersteller: HMI
    • Modell: Escan 400

    Wafergröße: 12" | Prozess: E-Beam Defekt Inspektion | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2005 RUDOLPH MP-300

    2005 RUDOLPH MP-300

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: MP 300

    Wafergröße: 12 | Versand: EXW

    Gyeonggi-do, Südkorea
  • NEXTEST MAGNUM PV SCM

    NEXTEST MAGNUM PV SCM

    • Hersteller: SCM / SCMI

    Wafergröße: 8, 12" | Versand: EXW

    Südkorea
  • A&B WOS 2000

    A&B WOS 2000

    • Hersteller: A&B

    Versand: EXW

    Südkorea
  • 2008 RUDOLPH MP1-300XCU

    2008 RUDOLPH MP1-300XCU

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: MP 300

    Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2007 RUDOLPH MP300

    2007 RUDOLPH MP300

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: MP 300

    Wafergröße: 8 " | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

    Südkorea
  • NIKON AMI-3300

    NIKON AMI-3300

    • Hersteller: Nikon
    • Modell: AMI-3300

    Wafergröße: 12" | Versand: EXW

    Südkorea
123

Übersicht

Halbleiterinspektions- und Testgeräte sind spezialisierte Maschinen, die zur Sicherstellung der Qualität und Funktionalität von Halbleiterbauelementen verwendet werden. Diese Maschinen führen verschiedene Tests und Inspektionen durch, einschließlich visueller Inspektion, elektrischer Tests und Fehleranalyse, um Probleme im Halbleiterherstellungsprozess zu identifizieren und zu beheben. Sie sind entscheidend für die Aufrechterhaltung der hohen Standards in der Halbleiterindustrie.

FAQ (HÄUFIG GESTELLTE FRAGEN)

Welche Faktoren sollte ich beim Kauf von Halbleiterinspektions- und Testgeräten berücksichtigen?

Berücksichtigen Sie die Kompatibilität der Geräte mit Ihren vorhandenen Systemen, die Arten von Tests, die sie durchführen, deren Genauigkeit und die Unterstützungs- und Serviceoptionen des Herstellers. Bewerten Sie außerdem den allgemeinen Zustand und alle enthaltenen Software oder Zubehör.

Wie kann ich den sicheren Versand von Halbleiterinspektions- und Testgeräten sicherstellen?

Verwenden Sie einen spezialisierten Transportdienst, der Erfahrung im Umgang mit empfindlichen und hochwertigen Geräten hat. Stellen Sie sicher, dass die Geräte während des Transports ordnungsgemäß verpackt, gesichert und versichert sind.

Welche Wartung ist für Halbleiterinspektions- und Testgeräte erforderlich?

Regelmäßige Wartung umfasst Reinigung, Kalibrierung und Software-Updates. Folgen Sie den Richtlinien des Herstellers für spezifische Wartungsintervalle und -verfahren, um die optimale Leistung und Langlebigkeit der Geräte sicherzustellen.