2001 HITACHI S4700-I
- Hersteller: Hitachi
- Modell: S-4700
Wafergröße: 12" | Prozess: Rasterelektronenmikroskop | Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH Meta Pulse 3
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH Meta Pulse 300
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: METALL-THK-MESSUNG | Versand: EXW
Südkorea
KLA_TENCOR PROMETRIX FT750
- Hersteller: KLA_TENCOR
Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
JEOL JWS-7500E
- Hersteller: Jeol
- Modell: JWS-7500E
Wafergröße: 8" | Prozess: WAFER-PRÜFSYSTEM | Versand: EXW
Südkorea
1996 HITACHI S-4160
- Hersteller: Hitachi
- Modell: S-4160
Wafergröße: 6",8" | Prozess: FE SEM | Versand: EXW
Südkorea
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RUDOLPH FE-3
- Hersteller: Rudolph
- Modell: FE-3
Wafergröße: 8" | Prozess: Fokus-Ellipsometer | Versand: EXW
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1997 LG SEMICON CLS-9002
- Hersteller: LG SEMICON
Prozess: 3. OPTISCHE INSPEKTION | Wafergröße: * | Versand: EXW
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2010 Kobelco SBW-330
- Hersteller: Kobelco
- Modell: SBW-330
Details: Waferprüfung und Metrologie | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: SBW-330 Waferprüfung und Messtechnik
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2010 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
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