Halbleiter » Messtechnik / Inspektion (Halbleiter)

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gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter)

  • 2003 RUDOLPH MP200

    2003 RUDOLPH MP200

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: MP200

    Wafergröße: 8

    Südkorea
  • 2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

    2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

    • Hersteller: J.A.WOOLLAM

    Wafergröße: 8" | Prozess: ELLIPSOMETER | Versand: EXW

    Südkorea
  • JEOL JWS-7515

    JEOL JWS-7515

    • Hersteller: Jeol
    • Modell: JWS-7515

    Details: Wafer-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: JEOL JWS-7515 Waferprüfung

    Südkorea
  • 2006 HITACHI IS2700E

    2006 HITACHI IS2700E

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: IS-2700SE

    Wafergröße: 12" | Details: E-Strahl-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: HITACHI IS2700SE E-Strahlprüfung

    Südkorea
  • KLA TENCOR P-15

    KLA TENCOR P-15

    • Hersteller: KLA-Tencor
    • Modell: P-15

    Südkorea
  • 2006 Micro-Vu Vertex 420

    2006 Micro-Vu Vertex 420

    • Hersteller: Micro-Vu

    Wafergröße: N/A | Versand: EXW

    Südkorea
  • Hitachi S4700II

    Hitachi S4700II

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: S-4700

    Wafergröße: 12" | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2011 RUDOLPH S3000A

    2011 RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

    Südkorea
  • 2011 RUDOLPH S3000A

    2011 RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

    Südkorea
  • RUDOLPH S3000A

    RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 12 | Versand: EXW

    Südkorea
  • RUDOLPH S3000A

    RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

    Südkorea
  • ONTO WV320

    ONTO WV320

    • Hersteller: Onto

    Wafergröße: 12" | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2000 RUDOLPH MP200

    2000 RUDOLPH MP200

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: MP200

    Südkorea
  • 2010 RUDOLPH WS3840

    2010 RUDOLPH WS3840

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: WS3840

    Wafergröße: 12" | Prozess: 3d-Bump-Metrologie | Versand: EXW".

    Südkorea
  • 1998 RODOLPH Meta Pulse 200

    1998 RODOLPH Meta Pulse 200

    • Hersteller: RODOLPH

    Wafergröße: 8 | 3 waffelgröße: 8" | Versand: EXW

    Südkorea
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Übersicht

Die Halbleitermesstechnik umfasst die Messung und Analyse von Halbleiterwafern und -geräten. Diese Kategorie umfasst Werkzeuge und Ausrüstungen zur Gewährleistung der Präzision und Genauigkeit von Halbleiterherstellungsprozessen. Diese Instrumente sind für die Qualitätskontrolle unerlässlich und helfen, Defekte zu erkennen und sicherzustellen, dass die Geräte strenge Industriestandards erfüllen.

FAQ (HÄUFIG GESTELLTE FRAGEN)

Welche Faktoren sollte ich beim Kauf von Halbleitermesstechnik berücksichtigen?

Berücksichtigen Sie die Messgenauigkeit, Auflösung und Kompatibilität der Ausrüstung mit Ihren speziellen Halbleiterprozessen. Bewerten Sie die Supportdienste des Anbieters und die Integrationsfähigkeit der Ausrüstung in Ihre bestehenden Systeme.

Wie kann ich einen sicheren Versand von Halbleitermesstechnik gewährleisten?

Nutzen Sie einen spezialisierten Versanddienst, der Erfahrung im Umgang mit empfindlicher und hochpräziser Ausrüstung hat. Stellen Sie sicher, dass die Ausrüstung gut verpackt ist, mit angemessener Polsterung und Handhabungsanweisungen.

Wie sieht der Wartungsplan für Halbleitermesstechnik aus?

Regelmäßige Kalibrierung und Inspektion sind unerlässlich. Befolgen Sie die Richtlinien des Herstellers für vorbeugende Wartung, einschließlich der Reinigung optischer Komponenten und der Überprüfung auf Software-Updates. Führen Sie ein Protokoll aller Wartungsaktivitäten.