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gebrauchte laser

  • Vertrauter Verkäufer
    Tragbares Lasermessung LEICA LTD-840

    Tragbares Lasermessung LEICA LTD-840

    • Hersteller: Leica

    Item_id: 840 | Subcategory: Metrologie | Referenz: 240-S053 | Kopfgröße: 220x280x875 mm | Mcu abmessungen: 510x485x200 mm | Kopfgewicht: 34 Kg | Gewicht mcu: 17 kg | Horizontal spiegeln: ± 235ºC | Tilt: ± 45 ° C ...

    Barcelona, Spanien
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

    Südkorea
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

    Südkorea
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2012 RUDOLPH S3000A

    2012 RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 8" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Kammer: EXW

    Südkorea
  • 2011 RUDOLPH S3000A

    2011 RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

    Südkorea
  • 2011 RUDOLPH S3000A

    2011 RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

    Südkorea
  • RUDOLPH S3000A

    RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

    Südkorea
  • 2011 RUDOLPH S3000A

    2011 RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

    Südkorea
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

    Südkorea
  • RUDOLPH S3000A

    RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW

    Südkorea
  • Cyber optics Cyberscan C212/110

    Cyber optics Cyberscan C212/110

    • Hersteller: Cyber optics

    Details: Laser-Messung | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers. | Kommentare: Cyberscan C212/110 Lasermessung

    Südkorea

Übersicht

Die Halbleitermesstechnik umfasst die Messung und Analyse von Halbleiterwafern und -geräten. Diese Kategorie umfasst Werkzeuge und Ausrüstungen zur Gewährleistung der Präzision und Genauigkeit von Halbleiterherstellungsprozessen. Diese Instrumente sind für die Qualitätskontrolle unerlässlich und helfen, Defekte zu erkennen und sicherzustellen, dass die Geräte strenge Industriestandards erfüllen.

FAQ (HÄUFIG GESTELLTE FRAGEN)

Welche Faktoren sollte ich beim Kauf von Halbleitermesstechnik berücksichtigen?

Berücksichtigen Sie die Messgenauigkeit, Auflösung und Kompatibilität der Ausrüstung mit Ihren speziellen Halbleiterprozessen. Bewerten Sie die Supportdienste des Anbieters und die Integrationsfähigkeit der Ausrüstung in Ihre bestehenden Systeme.

Wie kann ich einen sicheren Versand von Halbleitermesstechnik gewährleisten?

Nutzen Sie einen spezialisierten Versanddienst, der Erfahrung im Umgang mit empfindlicher und hochpräziser Ausrüstung hat. Stellen Sie sicher, dass die Ausrüstung gut verpackt ist, mit angemessener Polsterung und Handhabungsanweisungen.

Wie sieht der Wartungsplan für Halbleitermesstechnik aus?

Regelmäßige Kalibrierung und Inspektion sind unerlässlich. Befolgen Sie die Richtlinien des Herstellers für vorbeugende Wartung, einschließlich der Reinigung optischer Komponenten und der Überprüfung auf Software-Updates. Führen Sie ein Protokoll aller Wartungsaktivitäten.