Halbleiter » Messtechnik / Inspektion (Halbleiter)

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  • KLA TENCOR, P-15, Langscan-Profiler

    KLA TENCOR, P-15, Langscan-Profiler

    • Hersteller: KLA-Tencor
    • Modell: P-15

    Seriennummer.: 905001693 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Long-Scan-Profiler | Ausrüstung: Long-Scan-Profiler | Beschreibung: N/A

    Suwon, Südkorea
  • 2003 KLA, AFS-3220, Ebenheitsmessung

    2003 KLA, AFS-3220, Ebenheitsmessung

    • Hersteller: KLA-Tencor

    Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Ebenheitsmessung | Ausrüstung: Ebenheitsmessung | Beschreibung: Wafer 300mm, Scan-Dicke: Genauigkeit 0,25um

    Suwon, Südkorea
  • 1999 KLA, AFS-3220, Ebenheitsmessung

    1999 KLA, AFS-3220, Ebenheitsmessung

    • Hersteller: KLA-Tencor

    Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Ebenheitsmessung | Ausrüstung: Ebenheitsmessung | Beschreibung: Wafer 300mm, Scan-Dicke: Genauigkeit 0,25um

    Suwon, Südkorea
  • 2005 KLA, AFS-3220, Ebenheitsmessung

    2005 KLA, AFS-3220, Ebenheitsmessung

    • Hersteller: KLA-Tencor

    Seriennummer.: AMS101 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Ebenheitsmessung | Ausrüstung: Ebenheitsmessung | Beschreibung: Wafer 300mm, Scan-Dicke: Genauigkeit 0,25um

    Suwon, Südkorea
  • 2021 KLA, AFS-3220, Ebenheitsmessung

    2021 KLA, AFS-3220, Ebenheitsmessung

    • Hersteller: KLA-Tencor

    Seriennummer.: AMS101 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Ebenheitsmessung | Ausrüstung: Ebenheitsmessung | Beschreibung: Wafer 300mm, Scan-Dicke: Genauigkeit 0,25um

    Suwon, Südkorea
  • 1999 KLA, AFS-3220, Ebenheitsmessung

    1999 KLA, AFS-3220, Ebenheitsmessung

    • Hersteller: KLA-Tencor

    Seriennummer.: AMS069 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Ebenheitsmessung | Ausrüstung: Ebenheitsmessung | Beschreibung: Wafer 300mm, Scan-Dicke: Genauigkeit 0,25um

    Suwon, Südkorea
  • 2008 RAYTEX RXW-800

    2008 RAYTEX RXW-800

    • Hersteller: RAYTEX

    Wafergröße: 8" | Prozess: EDGE SCAN | Versand: EXW

    Südkorea

Übersicht

Die Halbleitermesstechnik umfasst die Messung und Analyse von Halbleiterwafern und -geräten. Diese Kategorie umfasst Werkzeuge und Ausrüstungen zur Gewährleistung der Präzision und Genauigkeit von Halbleiterherstellungsprozessen. Diese Instrumente sind für die Qualitätskontrolle unerlässlich und helfen, Defekte zu erkennen und sicherzustellen, dass die Geräte strenge Industriestandards erfüllen.

FAQ (HÄUFIG GESTELLTE FRAGEN)

Welche Faktoren sollte ich beim Kauf von Halbleitermesstechnik berücksichtigen?

Berücksichtigen Sie die Messgenauigkeit, Auflösung und Kompatibilität der Ausrüstung mit Ihren speziellen Halbleiterprozessen. Bewerten Sie die Supportdienste des Anbieters und die Integrationsfähigkeit der Ausrüstung in Ihre bestehenden Systeme.

Wie kann ich einen sicheren Versand von Halbleitermesstechnik gewährleisten?

Nutzen Sie einen spezialisierten Versanddienst, der Erfahrung im Umgang mit empfindlicher und hochpräziser Ausrüstung hat. Stellen Sie sicher, dass die Ausrüstung gut verpackt ist, mit angemessener Polsterung und Handhabungsanweisungen.

Wie sieht der Wartungsplan für Halbleitermesstechnik aus?

Regelmäßige Kalibrierung und Inspektion sind unerlässlich. Befolgen Sie die Richtlinien des Herstellers für vorbeugende Wartung, einschließlich der Reinigung optischer Komponenten und der Überprüfung auf Software-Updates. Führen Sie ein Protokoll aller Wartungsaktivitäten.