Halbleiter » Messtechnik / Inspektion (Halbleiter)

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gebrauchte vintage

  • KLA TENCOR, P-15, Oberflächenprofiler (Windows

    KLA TENCOR, P-15, Oberflächenprofiler (Windows NT)

    • Hersteller: KLA-Tencor
    • Modell: P-15

    Seriennummer.: 0704120887 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Oberflächenprofiler (Windows NT) | Ausrüstung: Oberflächenprofiler | Beschreibung: Windows NT

    Suwon, Südkorea
  • KLA TENCOR, P-10, Oberflächenprofilometer (Windows

    KLA TENCOR, P-10, Oberflächenprofilometer (Windows DOS)

    • Hersteller: KLA-Tencor
    • Modell: P-10

    Seriennummer.: 03970318 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Oberflächenprofilometer (Windows DOS) | Ausrüstung: Oberflächenprofilometer | Beschreibung: Windows DOS

    Suwon, Südkorea
  • KLA TENCOR, P-15, Langscan-Profiler

    KLA TENCOR, P-15, Langscan-Profiler

    • Hersteller: KLA-Tencor
    • Modell: P-15

    Seriennummer.: 905001693 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Long-Scan-Profiler | Ausrüstung: Long-Scan-Profiler | Beschreibung: N/A

    Suwon, Südkorea
  • KLA TENCOR, P-15, Oberflächenprofiler (Windows

    KLA TENCOR, P-15, Oberflächenprofiler (Windows XP Professional)

    • Hersteller: KLA-Tencor
    • Modell: P-15

    Seriennummer.: 0803105587 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Oberflächenprofiler (Windows XP Professional) | Ausrüstung: Oberflächenprofiler | Beschreibung: Windows XP Professional

    Suwon, Südkorea
  • VEECO, DEKTAK6M, Oberflächenprofilierer

    VEECO, DEKTAK6M, Oberflächenprofilierer

    • Hersteller: Veeco - Sloan
    • Modell: Dektak

    Seriennummer.: 34542 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Oberflächenprofiler | Ausrüstung: Oberflächenprofiler | Beschreibung: Scanlänge 50㎛~30mm, Wafer-Durchmesser 150mm

    Suwon, Südkorea
  • Hitachi, S-3000H, SEM (Rasterelektronenmikroskop)

    Hitachi, S-3000H, SEM (Rasterelektronenmikroskop)

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: S-3000H

    Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: SEM (Scanning Electron Microscope) | Ausrüstung: SEM (Rasterelektronenmikroskop)

    Suwon, Südkorea

Übersicht

Die Halbleitermesstechnik umfasst die Messung und Analyse von Halbleiterwafern und -geräten. Diese Kategorie umfasst Werkzeuge und Ausrüstungen zur Gewährleistung der Präzision und Genauigkeit von Halbleiterherstellungsprozessen. Diese Instrumente sind für die Qualitätskontrolle unerlässlich und helfen, Defekte zu erkennen und sicherzustellen, dass die Geräte strenge Industriestandards erfüllen.

FAQ (HÄUFIG GESTELLTE FRAGEN)

Welche Faktoren sollte ich beim Kauf von Halbleitermesstechnik berücksichtigen?

Berücksichtigen Sie die Messgenauigkeit, Auflösung und Kompatibilität der Ausrüstung mit Ihren speziellen Halbleiterprozessen. Bewerten Sie die Supportdienste des Anbieters und die Integrationsfähigkeit der Ausrüstung in Ihre bestehenden Systeme.

Wie kann ich einen sicheren Versand von Halbleitermesstechnik gewährleisten?

Nutzen Sie einen spezialisierten Versanddienst, der Erfahrung im Umgang mit empfindlicher und hochpräziser Ausrüstung hat. Stellen Sie sicher, dass die Ausrüstung gut verpackt ist, mit angemessener Polsterung und Handhabungsanweisungen.

Wie sieht der Wartungsplan für Halbleitermesstechnik aus?

Regelmäßige Kalibrierung und Inspektion sind unerlässlich. Befolgen Sie die Richtlinien des Herstellers für vorbeugende Wartung, einschließlich der Reinigung optischer Komponenten und der Überprüfung auf Software-Updates. Führen Sie ein Protokoll aller Wartungsaktivitäten.