gebrauchte Test Und Messung

2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Inspektionsmikroskop

• Hersteller: Nikon
• Modell: Optiphot 300

Seriennummer.: 625331 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Inspektionsmikroskop | Ausrüstung: Inspektionsmikroskop | Beschreibung: 14x10 Tisch, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

2007 KOCUSAI VR120_SD

• Hersteller: KOCUSAI

Wafergröße: 12" | Prozess: Widerstandsprüfsystem | Versand: EXW

1996 Nanometrics Nanospec8000

• Hersteller: Nanometrics
• Modell: Nanospec

Prozess: MET | Versand: EXW

2011 HMI eScan 400

• Hersteller: HMI
• Modell: Escan 400

Wafergröße: 12" | Prozess: E-Beam Defekt Inspektion | Versand: EXW

Chint Power Smart COMBOX - CHINT POWER

2005 RUDOLPH MP-300

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

A&B WOS 2000

• Hersteller: A&B

Versand: EXW

NEXTEST MAGNUM PV SCM

• Hersteller: SCM / SCMI

Wafergröße: 8, 12" | Versand: EXW

2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

2009 RUDOLPH MP300

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 8" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

1997 KLA AIT

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: AIT

Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW

LEICA INM300 Wafer Inspection

• Hersteller: Leica

2004 RUDOLPH AXI-S

• Hersteller: Rudolph
• Modell: AXI

Wafergröße: 12" | Prozess: Makro-Inspektion | Versand: EXW

NIKON AMI-3500

• Hersteller: Nikon
• Modell: AMI-3500

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

2008 RUDOLPH MP-300XCU

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Versand: EXW