PUDOLPH Meta Pluse3
- Hersteller: PUDOLPH
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea
2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: OVERLAY | Versand: EXW
Südkorea
2003 HITACHI RS 4000
- Hersteller: Hitachi
- Modell: RS 4000
Wafergröße: 12" | Prozess: Defektprüfung Sem | Versand: EXW
Südkorea
Südkorea
KLA_TENCOR PROMETRIX FT750
- Hersteller: KLA_TENCOR
Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
2003 HITACHI RS4000
- Hersteller: Hitachi
- Modell: RS 4000
Wafergröße: 12" | Prozess: Defektprüfung Sem | Versand: EXW
Südkorea
THERMO FISHER ECO 1000
- Hersteller: Thermo Fisher Scientific
- Modell: ECO 1000
Prozess: FTIR-SYSTEM | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH Meta Pulse 200
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8" | Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Versand: EXW
Südkorea
2004 RUDOLPH METAPULSE200
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW
2003 Rudolph Metapulse 200X cu
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW
2000 RUDOLPH METAPULSE200
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW
2001 Rudolph Metapulse 200X CU
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW
2005 Rudolph Metapulse 200
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW
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