gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter)

2006 HITACHI HD2300A

• Hersteller: Hitachi
• Modell: HD-2300A

Wafergröße: N/A | Prozess: Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) | Versand: EXW

2011 HITACHI NB-5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: NB5000

Wafergröße: N/A | Prozess: FIB Sem | Versand: EXW

HITACHI S5500

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5500

Wafergröße: N/A | Prozess: FE Sem | Versand: EXW

LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325

• Hersteller: LASER&PHYSICS

Prozess: Maske Test Maschine | Wafergröße: N/A | Versand: EXW

BALLUFF BOS-Sensor 26K-PA-1LHC-S4-C

• Hersteller: Balluff

Maßstab FAGOR COVP-1645

• Hersteller: Fagor

HEIDENHAIN Maßstab LIDA 325 ML 1200

• Hersteller: Heidenhain

KLA_TENCOR CI T1X0

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: CI T1X0 REV.2 | Versand: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: CI T1X0 | Versand: EXW

METROLOGY P2

• Hersteller: METROLOGY

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Hersteller: Nanometrics

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

METROLOGY Q230

• Hersteller: METROLOGY

Wafergröße: 8"

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000