Building Filters
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Jeol Rasterelektronenmikroskop (PC-SEM) JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
- Hersteller: Jeol
Inhalt: 1 Stück | Gewicht: 800000 g
$40,793 USDBorken, Deutschland - Vertrauter Verkäufer

JEOL JEM-2100F Transmission Electron Microscope Sy
- Hersteller: Jeol
Objektnummer: AA00072504 | Objektbezeichnung: JEOL JEM-2100F Transmission Electron Microscope Sy | Versand: 4-6 Wochen
$69,754 USDBurladingen, Deutschland - Vertrauter Verkäufer

JEOL JSM 840A SEM Scanning Electron Microscope Sy
- Hersteller: Jeol
- Modell: JSM
Objektnummer: AA00072606 | Objektbezeichnung: JEOL JSM 840A SEM Scanning Electron Microscope Sy | Versand: 4-6 Wochen
$8,402 USDBurladingen, Deutschland - Vertrauter Verkäufer

2004 JEOL JSM-6360LV
- Hersteller: Jeol
- Modell: JSM
Gunpo, Südkorea
