gebrauchte Elektrische Prüfinstrumente

HP Agilent 81525A Hochleistungs-InGaAs-Optikkopf

• gebraucht

• Hersteller: HP

HP 81524A InGaAs Optischer Kopf

• gebraucht

• Hersteller: HP

HP 81521B Germanium Optischer Kopf

• gebraucht

• Hersteller: HP

Newport 1835-C OPM Einzelkanal

• gebraucht

• Hersteller: Newport

- anzeigetyp: 6-stellige Vakuumfluoreszenz | - abtastauflösung: 20.000 Zählimpulse ＜25 Hz, 4096 Zählimpulse ＜1 kHz

Exfo IQ-1103 Leistungsmesser

• gebraucht

• Hersteller: Exfo

Detektortyp: InGaAs | Detektorgröße: 1 mm | Wellenlängenbereich: 800 bis 1700 nm | Foa-222: FC | Foa-254: SC | Foa-298: LC

Gentec Duo 2-Kanal-Leistungsmesser zur Überwachung der Laserleistung

• gebraucht

• Hersteller: Gentec

Thorlabs WM100 Omega-Messgerät

• gebraucht

• Hersteller: Thorlabs

Optischer Leistungsmesser Anritsu ML93B

• gebraucht

• Hersteller: Anritsu
• Modell: ML93

JDSU MAP OPM Kopf Allzweck

• gebraucht

• Hersteller: JDSU - Viavi - Acterna

Sensortyp: InGaAs | Detektorgröße: 2 mm | Wellenlängenbereich: 800 bis 1650 nm | Dynamikbereich: +11 dBm bis –70 dBm | Stecker: Normalerweise FC/APC oder SC/APC, je nach Konfiguration | Modellreferenz: mOPM-B1RHG...

JDSU MOPM-B1PMH OPM 1 Kanal

• gebraucht

• Hersteller: JDSU - Viavi - Acterna

Wellenlängenbereich: 800-1650 nm

Optischer Leistungsmesser Newport 1930F-IG-FC

• gebraucht

• Hersteller: Newport

Detektormaterial: InGaAs | Aktiver durchmesser (µm): 1000 | Wellenlänge (nm): 800–1650 | Leistungsaufnahmebereich [ w (dbm)]: 200 fW bis 2 mW (-97 bis +3,0) | Genauigkeit (% ): ± 5 | Linearität (% ): ± 0,5 | Nep ...

Nettest GN-6005 Optischer Leistungsmesser

• gebraucht

• Hersteller: NetTest

Newport 2930-C dualer optischer Leistungsmesser

• gebraucht

• Hersteller: Newport

Gentec Solo2 Einkanal-Leistungsmesser

• gebraucht

• Hersteller: Gentec

Noyes OPM4-4D Handheld-OPM

• gebraucht

• Hersteller: Noyes

Wellenlängenkompatibilität: Misst die optische Leistung von 850, 1300, 1310, 1550 und 1625 nm. | Wave-id-technologie: Erkennt mehrere Wellenlängen gleichzeitig und verkürzt so die Testzeit. | Datenspeicherung und...