gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) in Südkorea

HITACHI FB 2100

• Hersteller: Hitachi
• Modell: FB-2100

KLA P20H

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P20H

Wafergröße: 3

AMAT SEMVision

• Hersteller: Amat
• Modell: Semvision

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

KLA-TENCOR P 12

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P-12

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Hersteller: Nanometrics

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

1996 BROOKS METARA 7200

• Hersteller: Brooks

Wafergröße: 8 " | Prozess: OVERAY | Versand: EXW

2013 HITACHI RS6000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS-6000

Versand: EXW

1991 NIKON 3

• Hersteller: Nikon

Wafergröße: 5" | Prozess: OPTI STATION

2010 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 8 " | Versand: EXW

2006 KLA CI T1X0

• Hersteller: KLA-Tencor

Versand: EXW

RUDOLPH WV320

• Hersteller: Rudolph
• Modell: WV320

Wafergröße: 12" | Prozess: Makro-Inspektion | Versand: EXW".