Halbleiter » Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) » Südkorea

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Surplus Assets from Kent International Inc., a Leading Bicycle Manufacturer

von Perfection Global, LLC

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Endet Sep 9., 15:00 CDT
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gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) in Südkorea

  • RUDOLPH S3000

    RUDOLPH S3000

    • gebraucht

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000

    Wafergröße: 12 | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2010 Torya SP-500W

    2010 Torya SP-500W

    • gebraucht

    • Hersteller: Toray
    • Modell: SP-500W

    Wafergröße: 12" | Toray sp-500w s/n: A103141741 | Details: Messung der Bodenwellenhöhe | Bedingung: wie besehen | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: SP-500W Mess...

    Südkorea
  • Cyber optics Cyberscan C212/110

    Cyber optics Cyberscan C212/110

    • gebraucht

    • Hersteller: Cyber optics

    Details: Laser-Messung | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers. | Kommentare: Cyberscan C212/110 Lasermessung

    Südkorea
  • 2006 EO technology For glass

    2006 EO technology For glass panel

    • gebraucht

    • Hersteller: EO technology

    Details: Laserbeschrifter für Glas | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: EO tech Für Glasplatten, Lasermarker für Glas

    Südkorea
  • NGR NGR2150

    NGR NGR2150

    • gebraucht

    • Hersteller: NGR

    Wafergröße: 12" | Details: CD SEM | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: NGR2150 CD SEM

    Südkorea
  • JEOL JWS-7515

    JEOL JWS-7515

    • gebraucht

    • Hersteller: Jeol
    • Modell: JWS-7515

    Details: Wafer-Insektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: JEOL JWS-7515 Waferprüfung

    Südkorea
  • 1996 KLA TENCOR P-2

    1996 KLA TENCOR P-2

    • gebraucht

    • Hersteller: KLA-Tencor

    Wafergröße: 6",8" | Lieferung: EXW

    Südkorea
  • 2001 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

    2001 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

    • gebraucht

    • Hersteller: Nanometrics
    • Modell: CALIPERMOSAIC

    Wafergröße: 12" | Prozess: Überlagerung | Versand: EXW".

    Südkorea
  • 2010 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

    2010 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

    • gebraucht

    • Hersteller: Nanometrics
    • Modell: CALIPERMOSAIC

    Wafergröße: 12" | Prozess: Überlagerung | Versand: EXW".

    Südkorea
  • 2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    • gebraucht

    • Hersteller: Valley
    • Modell: JVX6200I

    Wafergröße: 12" | Prozess: Röntgenmetrologie (Röntgenreflexion) | Versand: EXW

    Südkorea
  • RUDOLPH Meta Pulse

    RUDOLPH Meta Pulse

    • gebraucht

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: Metapulse

    Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2012 RUDOLPH S3000A

    2012 RUDOLPH S3000A

    • gebraucht

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 8 " | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Kammer: EXW

    Südkorea
  • KLA_TENCOR P-12

    KLA_TENCOR P-12

    • gebraucht

    • Hersteller: KLA_TENCOR

    Wafergröße: 6",8" | Prozess: DISK PROFILER | Versand: EXW

    Südkorea
  • RUDOLPH Meta Pulse 300

    RUDOLPH Meta Pulse 300

    • gebraucht

    • Hersteller: Rudolph

    Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2010 BRUKER JVX6200

    2010 BRUKER JVX6200

    • gebraucht

    • Hersteller: Bruker

    Prozess: Metro | Versand: EXW

    Südkorea
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