gebrauchte Test Und Messung

2007 KOCUSAI VR120_SD

• gebraucht

• Hersteller: KOCUSAI

Wafergröße: 12" | Prozess: Widerstandsprüfsystem | Versand: EXW

1996 Nanometrics Nanospec8000

• gebraucht

• Hersteller: Nanometrics
• Modell: Nanospec

Prozess: MET | Versand: EXW

2011 HMI eScan 400

• gebraucht

• Hersteller: HMI
• Modell: Escan 400

Wafergröße: 12" | Prozess: E-Beam Defekt Inspektion | Versand: EXW

Chint Power Smart COMBOX - CHINT POWER

• neu

1997 KLA AIT

• gebraucht

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: AIT

Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW

2004 KLA VIPER 2430

• gebraucht

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: Viper 2430

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

2004 KLA Viper 2435XP

• gebraucht

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: Viper 2435

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

2005 RUDOLPH MP-300

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

2004 KLA Viper 2435

• gebraucht

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: Viper 2435

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

NEXTEST MAGNUM PV SCM

• gebraucht

• Hersteller: SCM / SCMI

Wafergröße: 8, 12" | Versand: EXW

A&B WOS 2000

• gebraucht

• Hersteller: A&B

Versand: EXW

2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

2009 RUDOLPH MP300

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 8 " | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

1997 KLA AIT

• gebraucht

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: AIT

Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW

LEICA INM300 Wafer Inspection

• gebraucht

• Hersteller: Leica