gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter)

Maßstab FAGOR COVP-1645

• gebraucht

• Hersteller: Fagor

HEIDENHAIN Maßstab LIDA 325 ML 1200

• gebraucht

• Hersteller: Heidenhain

KLA_TENCOR CI T1X0

• gebraucht

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: CI T1X0 | Versand: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• gebraucht

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: CI T1X0 REV.2 | Versand: EXW

2004 RUDOLPH METAPULSE200

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: Metapulse 200

Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW

2000 RUDOLPH METAPULSE200

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: Metapulse 200

Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: Metapulse 200

Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW

2005 Rudolph Metapulse 200

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: Metapulse 200

Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW

2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: Metapulse 200

Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW

2008 RUDOLPH NSK 105

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph

Versand: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• gebraucht

• Hersteller: Nanometrics

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

METROLOGY P2

• gebraucht

• Hersteller: METROLOGY

2003 Rudolph Metapulse 200X cu

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: Metapulse 200

Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW

2014 Lasertec BGM300

• gebraucht

• Hersteller: Lasertec

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

AMAT SEMVision

• gebraucht

• Hersteller: Amat
• Modell: Semvision

Wafergröße: 12" | Versand: EXW