gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) in Südkorea

RUDOLPH S3000A

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

ONTO WV320

• gebraucht

• Hersteller: Onto

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP200

2010 RUDOLPH WS3840

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: WS3840

Wafergröße: 12" | Prozess: 3d-Bump-Metrologie | Versand: EXW".

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• gebraucht

• Hersteller: RODOLPH

Wafergröße: 8 | 3 waffelgröße: 8 " | Versand: EXW

HITACHI S4700-II

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S 4700

Wafergröße: 12" | Prozess: FESEM mit Horriba EMAX EDX | Versand: EXW

PUDOLPH Meta Pluse3

• gebraucht

• Hersteller: PUDOLPH

Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN

• gebraucht

• Hersteller: Nanometrics

Wafergröße: 12" | Prozess: OVERLAY | Versand: EXW

2003 HITACHI RS 4000

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS 4000

Wafergröße: 12" | Prozess: Defektprüfung Sem | Versand: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke

1999 NEC NEC SL-473F

• gebraucht

• Hersteller: NEC
• Modell: SL-473F

Prozess: SI-WAFER-MARKER | Wafergröße: * | Versand: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• gebraucht

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Wafergröße: * | Versand: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER-ULTRA

• gebraucht

• Hersteller: Nanometrics

Wafergröße: 12" | Prozess: Überlagerung | Versand: EXW

2003 HITACHI RS4000

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS 4000

Wafergröße: 12" | Prozess: Defektprüfung Sem | Versand: EXW

THERMO FISHER ECO 1000

• gebraucht

• Hersteller: Thermo Fisher Scientific
• Modell: ECO 1000

Prozess: FTIR-SYSTEM | Wafergröße: * | Versand: EXW