gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter)

KLA TENCOR, P-15, Oberflächenprofiler (Windows XP Professional)
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: P-15
Seriennummer.: 0803105587 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Oberflächenprofiler (Windows XP Professional) | Ausrüstung: Oberflächenprofiler | Beschreibung: Windows XP Professional
Suwon, Südkorea
2010 KLA TENCOR, Alpha Step IQ, ASIQ3
- Hersteller: KLA-Tencor
Seriennummer.: 7083372 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Alpha Step IQ | Ausrüstung: Alpha Step IQ | Beschreibung: Windows 7 pro
Suwon, Südkorea
2003 KLA, AFS-3220, Ebenheitsmessung
- Hersteller: KLA-Tencor
Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Ebenheitsmessung | Ausrüstung: Ebenheitsmessung | Beschreibung: Wafer 300mm, Scan-Dicke: Genauigkeit 0,25um
Suwon, Südkorea
2005 KLA, AFS-3220, Ebenheitsmessung
- Hersteller: KLA-Tencor
Seriennummer.: AMS101 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Ebenheitsmessung | Ausrüstung: Ebenheitsmessung | Beschreibung: Wafer 300mm, Scan-Dicke: Genauigkeit 0,25um
Suwon, Südkorea
2003 KLA, SP3, TEILCHENZÄHLER
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: SP3
Seriennummer.: 45120310476 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: PARTIKELZÄHLER | Ausrüstung: PARTIKELZÄHLER | Beschreibung: Wafer 450mm
Suwon, Südkorea
2014 Veeco, Dektak6M, Alpha Step
- Hersteller: Veeco - Sloan
- Modell: Dektak
Seriennummer.: 24278 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Alpha-Schritt | Ausrüstung: Alpha-Schritt | Beschreibung: N/A
Suwon, Südkorea
KLA TENCOR, P-15, Oberflächenprofiler (Windows NT)
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: P-15
Seriennummer.: 0704120887 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Oberflächenprofiler (Windows NT) | Ausrüstung: Oberflächenprofiler | Beschreibung: Windows NT
Suwon, Südkorea
2021 KLA, AFS-3220, Ebenheitsmessung
- Hersteller: KLA-Tencor
Seriennummer.: AMS101 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Ebenheitsmessung | Ausrüstung: Ebenheitsmessung | Beschreibung: Wafer 300mm, Scan-Dicke: Genauigkeit 0,25um
Suwon, Südkorea
Hitachi, S-3000H, SEM (Rasterelektronenmikroskop)
- Hersteller: Hitachi
- Modell: S-3000H
Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: SEM (Rasterelektronenmikroskop) | Ausrüstung: SEM (Rasterelektronenmikroskop)
Suwon, Südkorea
1999 KLA, AFS-3220, Ebenheitsmessung
- Hersteller: KLA-Tencor
Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Ebenheitsmessung | Ausrüstung: Ebenheitsmessung | Beschreibung: Wafer 300mm, Scan-Dicke: Genauigkeit 0,25um
Suwon, Südkorea
KLA TENCOR, P-10, Oberflächenprofilometer (Windows DOS)
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: P-10
Seriennummer.: 03970318 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Oberflächenprofilometer (Windows DOS) | Ausrüstung: Oberflächenprofilometer | Beschreibung: Windows DOS
Suwon, Südkorea
2000 KLA 2139
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: 2139
Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW
Südkorea
2002 MDC SIGNATION
- Hersteller: MDC
Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW
Südkorea
2000 KLA UV-1080
- Hersteller: KLA-Tencor
Wafergröße: 6", 8" | Prozess: MET | Versand: EXW
Südkorea
2006 HITACHI HD2300A
- Hersteller: Hitachi
- Modell: HD-2300A
Wafergröße: N/A | Prozess: Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) | Versand: EXW
Südkorea