gebrauchte Test Und Messung

2010 AIT, AVIS-5000N, LED-Wafer-Inspektionssystem

• Hersteller: AIT

Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: LED-Wafer-Inspektionssystem | Ausrüstung: LED-Wafer-Inspektionssystem | Beschreibung: Wafer 2~6"

2012 KOH YOUNG, KY-7100, Automatische optische 3D-Inspektionsmaschine

• Hersteller: Koh Young
• Modell: KY7100

Seriennummer.: AOI-S001 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Automatische optische 3D-Inspektionsmaschine | Ausrüstung: Automatische optische 3D-Inspektionsmaschine | Beschreibung: 208VAC, 1Phase, 50/60Hz

2007 KOCUSAI VR120_SD

• Hersteller: KOCUSAI

Wafergröße: 12" | Prozess: Widerstandsprüfsystem | Versand: EXW

1996 Nanometrics Nanospec8000

• Hersteller: Nanometrics
• Modell: Nanospec

Prozess: MET | Versand: EXW

2011 HMI eScan 400

• Hersteller: HMI
• Modell: Escan 400

Wafergröße: 12" | Prozess: E-Beam Defekt Inspektion | Versand: EXW

Chint Power Smart COMBOX - CHINT POWER

2005 RUDOLPH MP-300

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

NEXTEST MAGNUM PV SCM

• Hersteller: SCM / SCMI

Wafergröße: 8, 12" | Versand: EXW

A&B WOS 2000

• Hersteller: A&B

Versand: EXW

2008 RUDOLPH MP1-300XCU

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

2007 RUDOLPH MP300

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 8" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

NIKON AMI-3300

• Hersteller: Nikon
• Modell: AMI-3300

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

2006 RUDOLPH MP-300

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

2012 RUDOLPH MP3_300A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

RUDOLPH MP3_300XCU

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12 | Versand: EXW