RODOLPH Meta Pulse 300
gebraucht
- Hersteller: RODOLPH
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW".
Südkorea
J.A Woollam VUV-VASE
gebraucht
- Hersteller: J.A Woollam
Wafergröße: 12" | Prozess: Ellipsometer | Versand: EXW".
Südkorea
2001 HITACHI S4700-I
gebraucht
- Hersteller: Hitachi
- Modell: S 4700
Wafergröße: 12" | Prozess: Rasterelektronenmikroskop | Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH Meta Pulse 3
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH S3000A
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH Meta Pulse 300
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: METALL-THK-MESSUNG | Versand: EXW
Südkorea
KLA_TENCOR PROMETRIX FT750
gebraucht
- Hersteller: KLA_TENCOR
Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
JEOL JWS-7500E
gebraucht
- Hersteller: Jeol
- Modell: JWS-7500E
Wafergröße: 8 " | Prozess: WAFER-PRÜFSYSTEM | Versand: EXW
Südkorea
Südkorea
RUDOLPH FE-3
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 8 " | Prozess: Fokus-Ellipsometer | Versand: EXW
Südkorea
Südkorea
1997 LG SEMICON CLS-9002
gebraucht
- Hersteller: LG SEMICON
Prozess: 3. OPTISCHE INSPEKTION | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
gebraucht
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: Maske & Wafer-Inspektion | Versand: EXW
Südkorea
2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
gebraucht
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: Maske & Wafer-Inspektion | Versand: EXW
Südkorea
2010 Kobelco SBW-330
gebraucht
- Hersteller: Kobelco
- Modell: SBW-330
Details: Waferprüfung und Metrologie | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: SBW-330 Waferprüfung und Messtechnik
Südkorea
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