RODOLPH Meta Pulse 300
gebraucht
- Hersteller: RODOLPH
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW".
SüdkoreaJ.A Woollam VUV-VASE
gebraucht
- Hersteller: J.A Woollam
Wafergröße: 12" | Prozess: Ellipsometer | Versand: EXW".
Südkorea2001 HITACHI S4700-I
gebraucht
- Hersteller: Hitachi
- Modell: S 4700
Wafergröße: 12" | Prozess: Rasterelektronenmikroskop | Versand: EXW
SüdkoreaRUDOLPH Meta Pulse 3
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
SüdkoreaRUDOLPH S3000A
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW
SüdkoreaRUDOLPH Meta Pulse 300
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: METALL-THK-MESSUNG | Versand: EXW
SüdkoreaKLA_TENCOR PROMETRIX FT750
gebraucht
- Hersteller: KLA_TENCOR
Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaJEOL JWS-7500E
gebraucht
- Hersteller: Jeol
- Modell: JWS-7500E
Wafergröße: 8 " | Prozess: WAFER-PRÜFSYSTEM | Versand: EXW
Südkorea- Südkorea
RUDOLPH FE-3
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 8 " | Prozess: Fokus-Ellipsometer | Versand: EXW
Südkorea- Südkorea
2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
gebraucht
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: Maske & Wafer-Inspektion | Versand: EXW
SüdkoreaJEOL JWS-7515
gebraucht
- Hersteller: Jeol
- Modell: JWS-7515
Details: Wafer-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: JEOL JWS-7515 Waferprüfung
Südkorea2006 HITACHI IS2700E
gebraucht
- Hersteller: Hitachi
- Modell: IS2700SE
Wafergröße: 12" | Details: E-Strahl-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: HITACHI IS2700SE E-Strahlprüfung
SüdkoreaKLA TENCOR P-15
gebraucht
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: P-15
Südkorea