RUDOLPH Meta Pulse 3
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
SüdkoreaRUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW
SüdkoreaRUDOLPH Meta Pulse 300
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: METALL-THK-MESSUNG | Versand: EXW
SüdkoreaKLA_TENCOR PROMETRIX FT750
- Hersteller: KLA_TENCOR
Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaJEOL JWS-7500E
- Hersteller: Jeol
- Modell: JWS-7500E
Wafergröße: 8" | Prozess: WAFER-PRÜFSYSTEM | Versand: EXW
Südkorea- Südkorea
- Südkorea
- Südkorea
2000 RUDOLPH METAPULSE200
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW
2001 Rudolph Metapulse 200X CU
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW
2005 Rudolph Metapulse 200
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW
2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW
2004 RUDOLPH METAPULSE200
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW