Building Filters
- Südkorea
2011 RUDOLPH S3000A
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea2010 RUDOLPH S3000A
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea- Südkorea
2006 RUDOLPH AXI_S
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: AXI
Wafergröße: 12" | Prozess: Makro-Inspektionssystem | Versand: EXW".
Südkorea2005 RUDOLPH AXI_S
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: AXI
Wafergröße: 12" | Prozess: Makro-Inspektionssystem | Versand: EXW".
Südkorea- Südkorea
2007 RUDOLPH MP300
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: MP 300
Wafergröße: 8 " | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
SüdkoreaRUDOLPH FE-3
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 8 " | Prozess: Fokus-Ellipsometer | Versand: EXW
Südkorea2000 RUDOLPH MP200
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: MP200
Südkorea2010 RUDOLPH S3000A
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea2004 RUDOLPH AXI-S
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: AXI
Wafergröße: 12" | Prozess: Makro-Inspektion | Versand: EXW
Südkorea- Südkorea
- Südkorea
2010 RUDOLPH S3000A
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea